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2025-03-21
+2024-11-13
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HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進(jìn)行設(shè)計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)
PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計,光譜儀,以及紅外、激光探測器等方面。而熱釋電系數(shù)是測定紅外探測器工作特性的主要參數(shù)之一。PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)采用高精度進(jìn)口的設(shè)備采集分析數(shù)據(jù)，對熱釋電系數(shù)能夠準(zhǔn)確的測試.
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